x螢光鍍層測厚儀-问鼎娱乐

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能量色散x螢光光譜儀 xrf

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型號:edx thick 800
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產品說明、技術參數及配置

edxthick800是一款全新上照式多功能自動微區x螢光膜厚測試儀,既滿足原有微小和複雜形態樣品的膜厚檢測功能,又可滿足有害元素檢測及輕元素成分分析;搭載自動化的x/y/z軸的三維繫統、雙激光定位和保護系統,可多點位編程測試,被廣泛應用於各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量。



儀器配置
01 獨立的x/y/z軸控制系統
02 微焦斑x光管 
03 可變高壓電源
04 防撞板外加防撞激光保護檢測器對儀器進行雙重安全保護
05 fast-sdd探測器
06 雙激光定位裝置
07 標配可自動切換的准直孔和濾光片

軟件優勢
1、清晰化操作界面佈局
簡約的佈局設計,讓操作員快速的掌握軟件基本操作。
2、快捷鍵按鈕設計
增加了日常鍍層測量快捷鍵設計按鈕,可快速檢測,提升工作效率。
3、高清可視化窗口
可清晰直觀的觀測到被檢測樣品的狀態,通過自動對焦、移動快捷鍵,調節到用戶最理想的觀測效果。
4、多通道數字譜圖界面
清晰化呈現被檢樣品的元素譜圖,配合先進的解譜技術,便可精准計算出結果。
5、測試結果匯總佈局設計
可快速查找當前測試數據,並可對測試數據進行報告生成,且快速查詢以往測試數據。

應用行業
航天新能源 
電子通訊 
電鍍行業
高校及科研院 
貴金屬鍍飾 
磁性材料

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