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能量色散x螢光光譜儀 xrf

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型號:opa 1000
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產品說明、技術參數及配置

opa-1000在線電鍍液分析儀基於元素分析的實時過程控制,完全滿足檢測製造銅箔過程中在線電鍍液(液流)成分檢測要求,最多可測試80多種化學元素,檢測限從ppm水平到重量百分比(wt%)濃度。
採用先進的第四代能量色散x射線螢光(edxrf)技術,天瑞儀器opa1000引領液流及固定位置的連續卷材生產在線元素分析的潮流。本設計用於跨越從重工業到食品級生產過程測量的解決方案,天瑞儀器opa1000可配置為用於產品分類及非分類工作領域。

opa1000性能及優點
基於元素分析的實時過程控制
測定元素鋁13ai至鈾92u
從ppm水平到重量百分比(wt%)濃度
堅固耐用的天瑞近光路設計 光學內核與sdd探測器
工業級觸摸屏的用戶界面
易用的經驗校准及常規操作
非分類應用領域的多重遠程分析測量頭
不使用危險的放射性同位素

成熟的技術和性能
為實現卓越的分析性能和可靠性,edxrf測量頭組件選自於公認的天瑞儀器qc 高分辨率台式儀器。借助這種成熟的技術,天瑞opa1000提供快速、非破壞性、多元素分析一一從百萬分之一(ppm)水平到高濃度百分含量一一可分析的元素從鋁(13ai)至鈾(92u)。
獨特的免工具液流單元設計
對於液流的元素分析,一個分析頭與一個帶有x射線窗口的獨特的免工具液流單元組件相配合。x射線窗口容納了液體流,但對x射線可透射,它通常是一塑料薄膜。
塗層厚度及成分
除了分析液流,opa1000因其多元素成分及塗層厚度測定的能力,也設計用於連續卷材的應用。測頭通常安裝在輥軸上的固定位置,以保證測頭至樣品表面的距離恆定。元素組成可直接測量,塗層厚度也可直接測量(此時,元素的計數率與厚度成正比),或通過某些基體元素的衰減以間接測量(此時,計數率與厚度成負相關)。

xrf技術
x射線螢光(xrf),電子吸收從x射線管射出的光(光子),從內層原子軌道逐出,更高能級軌道的電子躍遷以填補空白軌道,在此躍遷過程中激發出光子。因為一個特定元素每個原子的兩個特定軌道殼層間的能量差總是相同的,發出的光子始終有一個獨特的特徵能量(kev)。對於任何的特徵能量,探測到的單位時間內的光子數(每秒計數)均與液流中該元素的濃度相關。

廣泛的應用範圍
聚乙烯/pet製造:tpa和pta催化劑
金屬表面處理:電鍍、酸洗和預處理池
採礦業:溶劑萃取
化學品:混合添加劑和樹脂
造紙和塑料:釋放/屏障塗層、阻燃劑、紫外線穩定劑
紡織及無紡布:阻燃劑、紫外線穩定劑
金屬:轉化膜,其他表面塗層
石油:潤滑油添加劑及混合物
紙漿和紙:水處理
工業:廢水

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